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网站首页  ◇  产品中心  ◇  激光粒度仪   ◇   Nanolink SZ901纳米粒度分析仪

Nanolink SZ901纳米粒度分析仪

更新日期:2025-10-29

产品型号:Nanolink SZ901

产品描述:  纳米粒度分析仪是在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的纳米粒度分析系统,采用动态光散射(DLS)技术进行纳米粒度测量,被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析

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    NanolinkSZ901系列是bw必威西汉姆联官网在S900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度分析系统,采用动态光散射(DLS)技术进行纳米粒度测量,被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。

    NanolinkSZ901纳米粒度分析仪的杰出性能和主要特点包括:

    ◆经典90°动态光散射技术测量粒径,测量范围覆盖0.3nm–15μm*

    ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用

    ◆独创的余弦拟合法(CFLS)优于目前的频谱分析法(FFT)和位相分析法(PALS)

    ◆独创的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术

    ◆独创的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术

    ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器

    ◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C

    ◆新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹¹

    ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术

测量原理 动态光散射(DLS)、静态光散射(SLS)、电泳光散射(ELS)
粒径测量角度 90°,12°(Zeta电位)
粒径测量范围 0.3nm -15um*
粒径测量最小样品量 3ul*
粒径测量最小样品浓度 0.1mg/ml
粒径测量最大样品浓度 40%/wv**
检测点位置 0~6mm自动选择及调节
检测点定位精度 0.01mm
Zeta电位测量技术 余弦拟合位相分析法(CF-PALS)
Zeta电位测量范围 无实际限制
适用Zeta电位测量的粒径 1nm - 120μm*
迁移率范围 最小0,最大无实际限制
最大电导率 270mS/cm
电极 插入式平板电极、U型毛细管电极
分子量范围 340Da - 2x107Da
其它高级测量/计算功能 介质粘度、折光率、样品透过率/浓度、第二维利系数、颗粒间相互作用力系数和聚集度指数
产品标准 ISO13321,ISO22412-2017,ISO13099
合规认证 一类激光,CE、FDA、FCC、ROHS
光源 集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器
光强度调整范围 自动调节,0.0001%~100%
相关器 高速数字相关器,自适应通道配置
检测器 高灵敏度APD
温度控制范围 -15°C ~ 120°C
温度控制精度 ±0.1°C
进样方式 手动/自动
样品池(选配) 12mm比色皿、3μL毛细管超微量样品池、40μL微量样品池
环境要求 5-40℃,10%-80%相对湿度(无凝结)
工作电源 AC100V-240V,标准接地,直流电源供电24V/5A
系统重量 16kg
外形尺寸 365mm x 475mm x 180mm (LxWxH)

    注:* 取决于样品及样品池选件    ** 取决于测量角度 

 

Nanolink SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪产品样本-202410版.pdf
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