粒径仪是基于光衍射现象设计的，当光通过颗粒时产生衍射现象（其本质是电磁波和物质的相互作用）。衍射光的角度与颗粒的大小成反比。
不同大小的颗粒在通过激光光束时其衍射光会落在不同的位置，位置信息反映颗粒大小；同样大的颗粒通过激光光束时其衍射光会落在相同的位置。衍射光强度的信息反映出样品中相同大小的颗粒所占的百分比多少。
粒径仪的原理是：
由各衍射峰的角度位置所确定的晶面间距d以及它们的相对强度是物质的固有特性。每种物质都有其特定的晶体结构和晶胞尺寸，而这些又与衍射角和衍射强度有着对应关系，因此，可以根据衍射数据来鉴别物质结构。通过将未知物相的衍射花样与已知物质的衍射花样相比较，逐一鉴定出样品中的各种物相。目前，可以利用粉末衍射卡片进行直接比对，也可以计算机数据库直接进行检索。
粒径仪的功能特点：
控制软件：SAS控制软件创建了仪器操作、数据采集、处理和报告以及系统集成的世界标准；
设置方法快速简单：步进式参数设定，确保无任何遗漏；
实时数据显示：实时显示所有试验参数和结果数据；
FisherMapping：优化数据，以便与用户的费氏相关系数相吻合；
全自动分析：样品压实和压力的稳定性全部由电脑控制,使采集的数据具有高重复性；
符合ASTM标准：符合ASTMB330-12和C721-14标准，用于测试铝、二氧化硅、金属粉末以及相关化合物的粒径；
报告生成：自动创建公司logo和风格的PDF报告；
安全性特征：可通过密码保护将样品测试信息与用户ID绑定，避免未经授权的任何操作和修改；
符合标准：符合金属及其化合物粉末平均粒径、氧化铝和氧化硅平均粒径等国际标准。